非接触3D形状画像測定機 Hyper QV WLI

非接触3D形状画像測定機

Hyper Quick Vision WLIシリーズ非接触3D測定システムは、先進的で高精度な測定機器です。本機は白色光干渉計（WLI）光学ヘッドを搭載しており、高解像度の2Dおよび3D測定を実現します。さまざまな測定対象の表面に対応可能で、微細領域の表面解析、穴の深さ測定、基板配線寸法などでも精確な結果を提供します。

本システムは自動測定機能および多機能ソフトウェアを備え、高効率でさまざまな測定作業を実行可能です。半導体、電子部品、PCB、精密加工などの多様な産業分野で活用でき、測定効率と品質の向上に大きく貢献します。