※製品の主な特長のみを簡単に記載しており、その他の仕様についてはお客様のご要望に応じて出荷時に決定されます※
非接触3D形状画像測定機
Hyper Quick Vision WLIシリーズ非接触3D測定システムは、先進的で高精度な測定機器です。本機は白色光干渉計(WLI)光学ヘッドを搭載しており、高解像度の2Dおよび3D測定を実現します。さまざまな測定対象の表面に対応可能で、微細領域の表面解析、穴の深さ測定、基板配線寸法などでも精確な結果を提供します。
本システムは自動測定機能および多機能ソフトウェアを備え、高効率でさまざまな測定作業を実行可能です。半導体、電子部品、PCB、精密加工などの多様な産業分野で活用でき、測定効率と品質の向上に大きく貢献します。